1至1000 MHz的可变频率扫描测试能力
　 ;长*富* G * D * Q表收发， GB的地下的X 拓扑结构 ? | - ?表 | ?表 | ? | - ? 直接读|日本语| -
　 高分辨率- 4.5位数**
　 测量范围宽- 1米- 100度（ |日本语| ）
　 多才多艺，易于使用的测试装置
　 可用的选项，低于
料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件），规定了射频（习惯上也称高频）集总参数阻抗量的量值
溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
　　一、计量基准器具
　　1、高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值（包括
电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。
　　2、射（高）频集总参数阻抗计量基准器具包括：
　　2.1空气介质同轴线阻抗基准，其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用
校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗国家基准，本检
定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻抗量值的统一。在（1-1000）MHz频段，其技术指标为：
　　　　反射系数模值｜г｜：1.000±0.002；　　　　相角：±180°±0.5°。
　　2.2高频阻高频阻抗精密测量装置，它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪，经过准确度论
证分析，保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能：
　　　　频率：（1-1000）MHz
　　　　反射系数模值｜г｜：1.000±（0.003-0.007）
　　　　相角θ：±180°±0.5°；
　　　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
　　　　电容C：10pF-100nF±（0.2-10）%;
　　　　电感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
　　　　损耗：tgδ（D）0.001-0.5±<（0.002-0.05）
备注：以上仪器我们公司大量回收，有意出售者，请联系
东莞市欧诺谊电子仪器有限公司
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