针床也叫ICT测试治具，就是在线检测、测试治具。是利用电性能对在线元器件进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种非标准测试辅助夹具。上海贴片加工厂指出，它主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路、焊接等情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点，ICT测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，对每种单板需制作专用的针床，这个针床在工业生产上就叫它ICT测试治具。
针床（ICT测试治具）有单面双面之分，通用天板方便交换机种 ，使用可调培林座，容易保养，使用压克力&电木&FR-4 材质（或指定），直接gerber文件处理生成钻孔文件，保证钻孔精度。 测试程式自动生成，避免手工输入出错之可能 适用于HP、泰律达、振华concord、SRC等ICT机型。两被测点或被测点与预钻孔之中心距不得小于0.050"（1.27mm）。以大于0.100"（2.54mm）为佳，其次是0.075"（1.905mm）。
针床测试电路板：
　　不过随着科技的演进，电路板的尺寸也越来越小，小小地电路板上面光要挤下这么多的电子零件都已经有些吃力了，所以测试点占用电路板空间的问题，经常在设计端与制造端之间拔河，不过这个议题等以后有机会再来谈。测试点的外观通常是圆形，因为探针也是圆形，比较好生产，也比较容易让相邻探针靠得近一点，这样才可以增加针床的植针密度：　　
1.
使用针床来做电路测试会有一些机构上的先天上限制，比如说：探针的*小直径有一定极限，太小直径的针容易折断毁损。
2.
针间距离也有一定限制，因为每一根针都要从一个孔出来，而且每根针的后端都还要再焊接一条扁平电缆，如果相邻的孔太小，除了针与针之间会有接触短路的问题，扁平电缆的干涉也是一大问题。
3.
某些高零件的旁边无法植针。 如果探针距离高零件太近就会有碰撞高零件造成损伤的风险，另外因为零件较高，通常还要在测试治具针床座上开孔避开，也间接造成无法植针。电路板上越来越难容纳的下所有零件的测试点。
4.
由于板子越来越小，测试点多寡的存废屡屡被拿出来讨论，现在已经有了一些减少测试点的方法出现，如 Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG.。。 等；也有其它的测试方法想要取代原本的针床测试，如AOI、X-Ray，但目前每个测试似乎都还无法**取代ICT。
　　关于ICT的植针能力应该要询问配合的治具厂商，也就是测试点的*小直径及相邻测试点的*小距离，通常多会有一个希望的*小值与能力可以达成的*小值，但有规模的厂商会要求*小测试点与*小测试点间距离不可以超过多少点，否则治具还容易毁损。
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