在现代工业制造中，对金属、钢材、陶瓷及半导体等材料的非接触式温度测量至关重要。然而，传统长波红外热像仪在测量高反射率、低发射率的光亮金属表面时，常因发射率不稳定而导致数据偏差。为此，德国Optris公司推出的PI 1M短波红外热像仪，凭借其先进的光谱技术和高精度性能，成为解决这一难题的理想方案。
一、短波技术优势
Optris PI 1M工作在0.85–1.1 μm短波红外波段，相较于长波红外，金属材料在此波段的发射率显著提高，辐射能量呈指数增长。根据普朗克辐射定律，这降低了反射干扰和发射率变化对测温精度的影响，特别适用于高温下光亮金属表面的精确测量。
二、核心性能参数
高分辨率成像：搭载高动态CMOS探测器，分辨率达764×480像素，可清晰呈现热分布细节。
宽温域测量：测温范围覆盖450°C至1800°C，无需分段切换，简化操作流程。
高速响应能力：支持多种帧率模式——全分辨率下32 Hz，子帧模式80 Hz，极速模式下可达1 kHz，响应时间仅1毫秒，适用于快速移动或瞬态热过程监控。
线扫描功能：支持764×8像素的宽子图像模式，适用于连续生产线上的温度分布监测。
三、工业集成与环境适应性
PI 1M配备USB、模拟及数字接口，可无缝接入PLC等工业控制系统。配合PIX Connect软件，实现线扫描、图像合并等分析功能。设备支持水冷外壳（耐温至315°C）和空气净化装置，可在高温、多尘等恶劣环境中稳定运行，确保镜头清洁与长期可靠性。
四、典型应用场景
广泛应用于金属加工、热处理、增材制造、半导体烧结、陶瓷烧结等高温工艺过程，尤其适合对温度均匀性要求严苛的自动化产线。

Optris PI 1M凭借其短波红外技术、高分辨率、高速响应与强环境适应性，为工业高温测量提供了精准、可靠的解决方案，是提升工艺控制水平与产品质量的重要工具。

德国Optris红外热像仪生产厂家：https://www.shphgd.com/
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