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　　4022 268 00433 X-RAY渠道商下面介绍X-RAY荧光测厚法原理:

　　X-RAY是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，可分为连续X-RAY和特征X-RAY两种，常用波段为0.1-20埃（A0）。

　　X-RAY分析法按照产生的机理可以划分为X-RAY荧光法（X-RAY fluorescence analysis）和X-RAY吸收光谱法（X-RAY absorption spectroscopy）和X-RAY衍射分析法（X-RAY diffraction analysis）等。在PCB行业，关于金属层厚度普通采用X-RAY荧光法（X-RAYfluorescence analysis）。

　　X-RAY荧光测厚法原理是应用X-RAY射击到待丈量的物体表面上，而反射出荧光，应用皮膜反射的荧光与基材反射荧光的不同性质，与基材反射回来的荧光量的几，得以计算出皮膜厚度。

　　当一种物料遭到X-RAY的撞击（Bombardment）时，原子中的某些电子在获得足够的能量而脱离（Spin Off）各原子正常轨道的限制后，在原来脱离的价层（Shell）中便产生一个“空泛”（Void）。当另外有其他的电子从高价层中落下来填补该空泛的时分，其多余的能量便以X-RAY能量的光子释放出来，此X-RAY又在射击到其他物质上，并再度产生第二次的X-RAY荧光（X-RAY fluorescence），参见图2。各种荧光X-RAY的发射能阶（LimittedEnergy Lenel，也就是波长）与其再原子序（Atomic Number）成正比，而且和该物质的特性有关系，其谱线的数量（Quantity，也就是强度）是与该物质的厚度有关。经过这样的机理，可以对物质中止定性和定量分析。也就是假设能够采用恰当的仪器（Instrumentaition），经过计算机便可以很快应用X-RAY去丈量该材料的厚度。

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